利用X射线荧光（XRF）进行镀层厚度测量和材料分析，提高过程和质量控制。

X-Strata是结构紧凑、坚固耐用、用于质量控制的可靠的台式X射线荧光分析设备，提供简单、快速、无损的镀层厚度测量和材料分析。

它在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出卓越的分析能力，可进行多镀层厚度的测量。

镀层测厚仪X-Strata系列提供：

无损分析：无需样品制备

经行业认证的技术和可靠性，确保每年都带来收益

操作简单，只需要简单的培训

分析只需三步骤

杰出的分析准确性和精确性

在镀层测厚领域拥有超过20年的丰富经验

使用功能强大、操作简单的X射线荧光光谱仪进行镀层厚度测量，保证质量的同时降低成本.

一款操作简单的质量控制分析仪，满足镀层厚度测量和材料分析。

新型号设计

快速分析（几秒）1-4层镀层厚度

多款规格，例如标准样品台、加深样品台或自动程控样品台，满足所有样品类型

开槽式样品舱可检测大面积样品，例如印制线路板等

符合ISO3487和ASTM B568检测方法