X射线荧光光谱厚度测厚仪

X射线荧光光谱厚度测厚仪的特点：

快速：一般测量一个样品只需要5S～40S，样品可不处理或进行简单处理；

无损：物理测量，不改变样品性质；

直观：直观的分析谱图，元素分布一幕了然，定性分析速度快；

环保：检测过程中不产生任何废气、废水；

简易：对仪器操作人员技术要求较低，仪器操作简单,且维护方便；

ke kao 性高：由于测试过程无人为因素干扰，仪器自身分析jing du 、重复性与wen ding 性高。

X射线荧光光谱厚度测厚仪技术参数：

下照式节省放置样品时间，单位测试样品时间短

样品照射系统多屏显示， 一键式测试按钮，测试速度快

gao jing 度XY移动平台

较小准直器，微区域分析

gao 分辨率SDD半导体探测器

可视化操作较大样品腔 415（W）×374（D）×218（H）mm

500万高清USB3.0变焦工业摄像头

任意多个可选择的分析和识别模型

相互du li 的基体效应校正模型

多变量非线性回收程序

深槽样品测试算法校正模型

良好的射线屏蔽设计

触点开关、光闸多重bao hu 系统

光管和高压休眠保护系统